Ключевые слова: HTS, YBCO, substrate NbN/Si, buffer layers, co-evaporation process, fabrication, texture, microstructure, critical current, critical caracteristics
Nishida A.(nishida@cis.fukuoka-u.ac.jp), Taka C., Chromik S., Durny R.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.